Depolarizációs források és hatásuk vékonyrétegek spektroszkópiai ellipszometriai vizsgálatára
A doktori disszertációm témája a spektroszkópiai ellipszometria, ezen belül is a depolarizáló tulajdonságú minták vizsgálata. Az ellipszometriai mérési módszer azon alapul, hogy ha a vizsgálandó mintát ismert polarizációs állapotú fénnyel megvilágítjuk, akkor a mintáról való visszaverődés során a po...
Elmentve itt :
Szerző: | Pápa Zsuzsanna |
---|---|
További közreműködők: |
Budai Judit
(Témavezető) Tóth Zsolt (Témavezető) |
Dokumentumtípus: | Disszertáció |
Megjelent: |
2017-11-15
|
Tárgyszavak: | |
doi: | 10.14232/phd.4012 |
mtmt: | 3349337 |
Online Access: | http://doktori.ek.szte.hu/4012 |
Hasonló tételek
-
Lézerrel kezelt szilícium felületek, valamint impulzuslézeres rétegépítéssel előállított amorf szilícium és SixC vékonyrétegek ellipszometriai vizsgálata
Szerző: Hanyecz István
Megjelent: (2015) -
Szelén vékonyrétegek fotovezetése
Szerző: Rátkai Sándor
Megjelent: (1985) -
Szélesszögű spektroszkópiai ellipszométer fejlesztése és alkalmazása napelem-technológiai ZnO rétegek vizsgálatára
Szerző: Major Csaba
Megjelent: (2010) -
Szerves vékonyrétegek impulzuslézeres leválasztása
Szerző: Kecskeméti Gabriella
Megjelent: (2009) -
Impulzuslézerekkel módosított szén és szilícium felületek vizsgálata Raman-spektroszkópiával és ellipszometriai módszerekkel
Szerző: Csontos János
Megjelent: (2019)