Disorder and cavity evolution in single-crystalline Ge during implantation of Sb ions monitored in-situ by spectroscopic ellipsometry

Lohner Tivadar, Németh Attila, Zolnai Zsolt, Kalas Benjamin, Romanenko Alekszej, Nguyen Quoc Khánh, Szilágyi Edit, Kótai Endre, Agócs Emil, Tóth Zsolt, Budai Judit, Petrik Péter, Fried Miklós, Bársony István, Gyulai József
2022

Szélesszögű spektroszkópiai ellipszométer fejlesztése és alkalmazása napelem-technológiai ZnO rétegek vizsgálatára

Major Csaba
2010