1 - 3 megjelenítése a 3 találatból, Keresési idő : 0.03s Szűkített eredmények
  1. 1
    Lézerrel kezelt szilícium felületek, valamint impulzuslézeres rétegépítéssel előállított amorf szilícium és SixC vékonyrétegek ellipszometriai vizsgálata
    Online elérés
    Disszertáció
    Hozzáadás a kedvencekhez
    Elmentve itt :
  2. 2
    Depolarization correction method for ellipsometric measurements of large grain size zinc-oxide films
    Online elérés
    Cikk
    Hozzáadás a kedvencekhez
    Elmentve itt :
  3. 3
    Ellipsometric analysis of silicon surfaces textured by ns and sub-ps KrF laser pulses
    Online elérés
    Cikk
    Hozzáadás a kedvencekhez
    Elmentve itt :
‌: Feliratkozás RSS hírfolyamra — Keresés küldése e-mail-ben — Keresés mentése