Relating Code Coverage, Mutation Score and Test Suite Reducibility to Defect Density

Relating Code Coverage, Mutation Score and Test Suite Reducibility to Defect Density

Elmentve itt :
Bibliográfiai részletek
Szerzők: Tengeri Dávid
Vidács László
Beszédes Árpád
Jász Judit
Balogh Gergő
Vancsics Béla
Gyimóthy Tibor
Testületi szerző: Proceedings of the 9th IEEE International Conference on Software Testing, Verification and Validation Workshops (ICSTW'16); The 11th International Workshop on Mutation Analysis (MUTATION'16)
Dokumentumtípus: Könyv része
Megjelent: IEEE Computer Society USA 2016
Sorozat:2016 IEEE Ninth International Conference on Software Testing, Verification and Validation Workshops (ICSTW)
mtmt:3109514
Online Access:http://publicatio.bibl.u-szeged.hu/10372
Leíró adatok
Terjedelem/Fizikai jellemzők:174-179
ISBN:978-1-5090-1826-0

Hasonló tételek